I metudi di prova è e regule di ispezione
1. Ispezione batch by batch (ispezione di gruppu A)
Ogni lotu di prudutti deve esse inspeccionatu secondu a Table 1, è tutti l'articuli in Table 1 ùn sò micca distruttivi.
Table 1 Inspection Per Batch
gruppu | InspectionItem | Metudu d'ispezione | Criterium | AQL (Ⅱ) |
A1 | Apparizione | Ispezione visuale (in cundizioni normali di illuminazione è visione) | U logo hè chjaru, u rivestimentu di a superficia è a placcatura sò liberi di sbucciatura è danni. | 1.5 |
A2a | Caratteristiche elettriche | 4.1 (25 ℃), 4.4.3 (25 ℃) in JB/T 7624—1994 | Polarità inversa: VFM> 10 USLIRRM> 100 USL | 0,65 |
A2b | VFM | 4,1 (25 ℃) in JB/T 7624-1994 | Lagnanza à i requisiti | 1.0 |
IRRM | 4.4.3 (25 ℃, 170 ℃) in JB/T 7624—1994 | Lagnanza à i requisiti | ||
Nota: USL hè u valore limite massimu. |
2. Ispezione periodica (ispezione di u gruppu B è u gruppu C)
Sicondu a Tabella 2, i prudutti finalizzati in a produzzione normale deve esse inspeccionati almenu un batch di Gruppu B è Gruppu C ogni annu, è l'articuli d'ispezione marcati cù (D) sò testi distruttivi.Se l'ispezione iniziale ùn hè micca qualificata, u campionamentu supplementu pò esse ri-inspeccionatu secondu l'Appendice Table A.2, ma solu una volta.
Tabella 2 Inspezione periodica (Gruppu B)
gruppu | InspectionItem | Metudu d'ispezione | Criterium | Pianu di campionamentu | |
n | Ac | ||||
B5 | Ciclu di temperatura (D) seguitu da a sigillatura |
| Misurazione dopu a prova: VFM≤ 1,1 USLIRRM≤ 2 USLmicca fuga | 6 | 1 |
CRRL | Dà brevemente l'attributi pertinenti di ogni gruppu, u VFMè eiuRRMi valori prima è dopu a prova, è a cunclusione di a prova. |
3. Ispezione d'identificazione (ispezione di u gruppu D)
Quandu u pruduttu hè finitu è messu in a valutazione di a produzzione, in più di l'ispezioni di u gruppu A, B, C, a prova di u gruppu D deve ancu esse fatta secondu a Tabella 3, è l'articuli d'ispezione marcati cù (D) sò testi distruttivi.A pruduzzione normale di i prudutti finalizzati deve esse pruvata almenu un batch di Gruppu D ogni trè anni.
Se l'ispezione iniziale falla, u campionamentu supplementu pò esse ricontrollatu secondu l'Appendice Table A.2, ma solu una volta.
Tabella 3 Test d'identificazione
No | gruppu | InspectionItem | Metudu d'ispezione | Criterium | Pianu di campionamentu | |
n | Ac | |||||
1 | D2 | Test di carica di u ciclu termale | Tempi di ciclu: 5000 | Misura dopu a prova: VFM≤ 1,1 USL IRRM≤ 2 USL | 6 | 1 |
2 | D3 | Scossa o vibrazione | 100g: mantene 6ms, forma d'onda mezza sinusoidale, duie direzioni di 3 assi mutuamente perpendiculari, 3 volte in ogni direzzione, totali 18 volte. 20g: 100 ~ 2000Hz, 2h di ogni direzzione, totale 6h. | Misura dopu a prova: VFM≤ 1,1 USL IRRM≤ 2 USL | 6 | 1 |
CRRL | Dà brevemente i dati attributi pertinenti di ogni gruppu, u VFM, IRRMè eiuDRMi valori prima è dopu a prova, è a cunclusione di a prova. |
Marcatura è imballaggio
1. Marcu
1.1 Marca nantu à u pruduttu include
1.1.1 Numeru di produttu
1.1.2 Marca d'identificazione di u terminal
1.1.3 Nome di a cumpagnia o marca
1.1.4 Codice d'identificazione di lottu d'ispezione
1.2 Logo nantu à u cartone o struzzioni attaccati
1.2.1 U mudellu di u produttu è u numeru standard
1.2.2 Nome di cumpagnia è logò
1.2.3 Segni a prova di umidità è di pioggia
1.3 Pacchettu
I requisiti di imballaggio di u produttu devenu esse conformi à e regulazioni domestiche o à i bisogni di i clienti
1.4 Documentu di u produttu
U mudellu di u produttu, u numeru standard di implementazione, i requisiti speciali di prestazione elettrica, l'aspettu, etc. deve esse dichjaratu nantu à u documentu.
Udiodu di saldaturapruduciutu da Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor hè largamente appiicata in saldatura di resistenza, saldatura media è alta frequenza sin'à 2000Hz o sopra.Cù una tensione di punta in avanti ultra-bassa, resistenza termale ultra-bassa, tecnulugia di fabricazione di punta, capacità di sustituzione eccellente è prestazione stabile per l'utilizatori globale, u diodu di saldatura da Jiangsu Yangjie Runau Semiconductor hè unu di i dispositi più affidabili di a putenza cinese. prudutti di semiconductor.
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